Noise and Reliability of Semiconductor Devices: Proceedings of the International NODITO Workshop, Brno, Czech Republic, July, 18-20, 1995

Első borító
Technical University, 1995 - 228 oldal

Bibliográfiai információk

CímNoise and Reliability of Semiconductor Devices: Proceedings of the International NODITO Workshop, Brno, Czech Republic, July, 18-20, 1995
KözreműködőkJosef Šikula, Pavel Schauer, Vysoké Učení Technické v Brně Fakulta Elektrotechniky a Informatiky, Vysoké učení technické v Brně
KiadóTechnical University, 1995
ISBN8021406631, 9788021406636
Terjedelem228 oldal
  
Idézet exportálásaBiBTeX EndNote RefMan